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随着全球LTE手艺周全生长，，，，，，LTE无线网卡崭露头角，，，，，，并依附越发优异的通讯速率与质量逐渐取代3G无线网卡的职位。。可是也保存着大宗LTE无线网卡充满着市场，，，，，，产品质量良莠不齐的征象。。CCC认证是中国政府为�；；は恼呷松砬寰埠凸仪寰病⒃銮坎分柿恐卫怼⒆裾罩绰衫蚴笛榈囊恢植芳案衿蓝ㄖ贫�，，，，，，其划定LTE无线网卡必需通过CCC认证才华进入市场。。LTE无线网卡的CCC认证包括清静测试与电磁兼容测试两部分，，，，，，以下对电磁兼容的要求作出简要的说明。。
LTE无线网卡的电磁兼容测试依据的标准为YD/T 2583.14-2013《蜂窝式移动通讯装备电磁兼容性要求和丈量要领第14部分：LTE用户装备及其辅助装备》，，，，，，该标准中划定LTE无线网卡不但需要举行电磁骚扰测试，，，，，，还需要举行抗扰度测试。。其中，，，，，，电磁骚扰测试包括辐射杂散骚扰测试和辐射一连骚扰测试，，，，，，抗扰度测试包括静电放电抗扰度测试及辐射骚扰抗扰度测试。。
辐射一连骚扰测试
辐射一连骚扰测试建议在半电波暗室中举行，，，，，，半电波暗室的园地性能指标必需切合GB/T 6113.104中的要求。。当测试频率为1GHz以下时，，，，，，测试时所使用的准峰值丈量吸收机应切合GB/T 6113.101-2008第四章的要求。。峰值丈量吸收机应切合GB/T 6113.101-2008第五章的要求，，，，，，并具有GB/T 6113.101-2008第四章所要求的6dB带宽。。测试天线应切合GB/ T6113.104中的要求，，，，，，当测试频率为1GHz以上时，，，，，，丈量吸收机应切合CIPSR16-1-1中的要求。。辐射一连骚扰限值见表1、表2。。
在测试前，，，，，，受试装备需与其辅助装备相毗连，，，，，，如条记本电脑。。将受试装备与辅助装备安排在半电波暗室转台中心的非导电质料测试台上，，，，，，测试台高度应为 80cm。。受试装备应于LTE模拟基站建设数据通讯毗连。。测试时，，，，，，在每一个测试频率，，，，，，应在半电波暗室接地平板上方1m至4m的规模内调解天线的高度，，，，，，应在 0°至360°之间旋转转台，，，，，，以寻找该频率最大的场强读数。。在丈量历程中，，，，，，为了寻找最大的场强读数，，，，，，应将天线依次改变为水平或笔直极化方法对受试装备划分举行测试。。在30MHz至1GHz频率规模内，，，，，，用带有准峰值检波器的丈量吸收机举行丈量。。为了节约测试时间，，，，，，提高测试效率，，，，，，可以用峰值丈量取代准峰值丈量。。有争议时，，，，，，以准峰值丈量吸收机的丈量效果为准。。测试天线与受试装备之间的距离应为10m。。在1GHz至6GHz频率规模内，，，，，，应使用峰值检波器与平均值检波器同时对受试装备举行丈量。。测试天线与受试装备之间的距离应为3m。。
表1辐射一连骚扰限值(30MHz～1GHz，，，，，，10米丈量距离)
表2辐射一连骚扰限值(1GHz～6GHz，，，，，，3米丈量距离)
静电放电抗扰度测试
静电放电抗扰度测试建议在实验室中举行。。静电放电爆发器必需知足GB/T 17626.2的要求，，，，，，并且应凭证GB/T 17626.2的要求对静电放电爆发器的特征举行校验。。实验室的地面应设置接地参考平面，，，，，，它应是一种最小厚度为0.25mm的铜或铝的金属薄板，，，，，，其他金属质料虽可使用但它们至少有0.65mm的厚度。。接地参考平面的最小尺寸为1m2，，，，，，现实的尺寸取决于受试装备的尺寸，，，，，，并且每边至少应伸出受试装备或耦合板之外0.5m，，，，，，并将它与�；；そ拥叵低诚嗯�。。在接地参考平面上安排一张高度为0.8m的木桌。。放在桌面上的水平耦合板(HCP)面积为1.6m×0.8m，，，，，，并用一张厚为0.5mm的绝缘衬垫将受试装备和辅助装备与耦合板隔离，，，，，，水平耦合板至少比受试装备的每一边大出0.1m，，，，，，受试装备与实验室墙壁和其他金属性结构之间的最小距离为1m。。在绝缘衬垫上安排笔直耦合板(VCP)，，，，，，将水平耦合板与笔直耦合板通过两头都接有470kΩ的电缆毗连到参考平面上。。静电放电抗扰度试验品级见表3。。
表3 静电放电抗扰度试验品级
在测试前，，，，，，受试装备需与其辅助装备相毗连，，，，，，如条记本电脑，，，，，，将受试装备与辅助装备安排在木桌的绝缘衬垫上。。受试装备需在营业模式和空闲模式应划分举行测试。。在测试时，，，，，，关于直接放电，，，，，，静电放电爆发器应坚持与实验放电的外貌笔直，，，，，，以改善试验效果的可重复性。。除非在通用标准、产品标准或产品类标准中有其他划定，，，，，，静电放电只施加在正常使用时职员可接触到的受试设惫亓点和面。。关于外貌涂漆的情形，，，，，，如装备制造厂家未说明涂膜为绝缘层，，，，，，则爆发器的电极头应穿入漆膜，，，，，，以便与导电层接触。。如厂家指明涂漆是绝缘层，，，，，，则应只举行空气放电。。这类外貌不应举行接触放电试验。。间接放电分为对水平耦合板放电和对笔直耦合板放电。。
对水平耦合板放电应在水平偏向对其边沿施加。。在距受试装备中心点前面的0.1m处水平耦合板边沿，，，，，，至少施加十次的单次放电(以最敏感的极性)。。放电时，，，，，，放电电极的长轴应处在水平耦合板的平面，，，，，，并与其前面的边沿笔直，，，，，，放电电极应接触水平耦合板的边沿。。对笔直耦合板放电时，，，，，，应对其一个笔直边的中心至少施加十次的单次放电(以最敏感的极性)，，，，，，应将尺寸为0.5m×0.5m的笔直耦合板平行于受试装备安排且与其坚持0.1m的距离。。放电应施加在耦合板上，，，，，，通过调解耦合板的位置，，，，，，使受试装备周围差别的位置都收到放电试验。。
当受试装备切合性能判据时，，，，，，则以为该受试装备通过静电放电抗扰度测试。。性能判据如下：
在试验之前应建设好通讯链路。。在试验后，，，，，，用户装备在通讯历程中不可泛起用户可以察觉的通讯质量的降低。。若是整个试验由一系列小的试验组成，，，，，，试验竣事后，，，，，，受试装备应没有用户控制功效损失和存储数据的丧失，，，，，，并且通讯毗连能够坚持。。除了在营业模式下确认上述性能，，，，，，还应举行空闲模式下的试验，，，，，，试验历程中发信机不应泛起误操作。。
辐射骚扰抗扰度测试
辐射骚扰抗扰度测试建议在电波暗室中举行，，，，，，电波暗室应凭证GB/T 17626.3的要求举行校准，，，，，，且必需知足GB/T 17626.3中场匀称性的划定。。辐射骚扰抗扰度试验品级见表4。。
表4 辐射骚扰抗扰度试验品级
在测试前，，，，，，受试装备需与其辅助装备相毗连，，，，，，如条记本电脑。。将受试装备与辅助装备安排在高度为0.8m的非导电质料测试台上，，，，，，受试装备在营业模式 和空闲模式应划分举行测试。。在测试时，，，，，，频率规模为80MHz至2,700MHz，，，，，，使用校准历程中所确定的功率电平，，，，，，并用1kHz的正弦波对信号举行80%的幅度调制，，，，，，测试品级应为3V/m。。80MHz至1,000MHz频段内频率扫描步长不大于前一频率的1%，，，，，，1,000MHz至2,700MHz频段内频率扫描步长不大于前一频率的0.5%。。发射天线需在笔直极化状态和水平极化状态划分举行试验。。
当受试装备切合性能判据时，，，，，，则以为该受试装备通过辐射骚扰抗扰度测试。。性能判据如下：在测试之前应建设好通讯链路，，，，，，在试验历程中应坚持通讯毗连。。在数据传输模式，，，，，，吞吐量应抵达参考测试信道最大吞吐量的95%。。试验后，，，，，，受试装备应能够正常事情，，，，，，没有用户控制功效的损失和存储数据的丧失，，，，，，且坚持通讯毗连。。除了在营业模式下确认上述性能，，，，，，还应举行空闲模式下的试验，，，，，，试验历程中发信机不应泛起误操作。。
辐射杂散骚扰测试
辐射杂散骚扰测试应在全电波暗室中举行，，，，，，全电波暗室的园地性能指标必需切合GB/T 6113.104中的要求。。测试时所使用的丈量吸收机应具有有用值检波方法。。辐射杂散骚扰限值见表5。。
在测试前，，，，，，受试装备LTE无线网卡(下文中简称受试装备)需与其辅助装备相毗连，，，，，，如条记本电脑。。将受试装备与辅助装备安排在非导电质料测试台上，，，，，，受试装备与吸收天线的距离不小于3m，，，，，，受试装备需在营业模式和空闲模式应划分举行测试。。在测试时，，，，，，先将吸收天线高度调解为受试装备物理中心高度，，，，，，然后在每一个测试频率，，，，，，转台0°至360°之间举行旋转，，，，，，以寻找该频率最大的有用功率值。。为了寻找最大的有用功率值，，，，，，应将天线依次改变为水平或笔直极化方法对受试装备划分举行测试，，，，，，应使用有用值检波器对受试装备举行测试。。
表5 辐射杂散骚扰限值
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